Saper misurare: EMiT e CertLab portano la metrologia al centro dell’innovazione d’impresa

EMiT Feltrinelli ETS, in collaborazione con Cert Lab e con il patrocinio dell’Ordine degli Ingegneri di Milano, promuove l’evento “SAPER MISURARE: Metrologia, Industria 4.0 e dati certificati per l’AI”, un incontro dedicato al valore della metrologia come leva strategica per la competitività delle imprese.

📅 Giovedì 5 febbraio – ore 16:00
📍 Presso la sede EMiT Feltrinelli ETS – Piazzale Cantore 10, Milano

Il programma approfondisce il ruolo della metrologia in contesti produttivi avanzati, tra digitalizzazione dei processi, certificazione del dato e applicazioni dell’intelligenza artificiale.
Un’occasione per professionisti, aziende e stakeholder del settore di confrontarsi su come precisione, innovazione e cultura tecnica possano generare valore reale.

Programma dell’evento

16:00 – Saluti e apertura dei lavori
Paola Suardi – Direttore EMIT
Carmelo Iannicelli – Responsabile Cert Lab ,Tesoriere  e Presidente Commissione Metrologia Ordine degli Ingegneri di Milano

16:10 – Perché Metrologia oggi
La metrologia oggi è il cuore della competitività: precisione, innovazione e tecnologia sono la chiave per il futuro sistema paese.
Massimo Mai Responsabile Antonio Mai s.n.c. membro Commissione metrologia Ordine degli Ingegneri Milano; Commissione UNI/CT027 Metrologia; Legal metrology Group Cecip – 

16:25 – Metrologia e Industria
La metrologia come strumento di risk management: Uncertainty based thinking, Errori di misura e impatti su produzione e costi.
Raffaele D’Alessio: -Esperto di metrologia da oltre 25 anni con attività sia in ambito pubblico che privato. Docente e Auditor per gli schemi 17025 e 17020.

16:40 – Misurare il Futuro: Innovazione e Sfide per l’Industria Italiana
Come si sono evoluti gli strumenti di misura negli ultimi anni e come si evolveranno nel futuro. L’industria italiana si deve adeguare, piccoli suggerimenti per rimanere al passo.
Paolo Biffi – Fisico sperimentale, oltre 40 anni di esperienza in metrologia

16:55 – Qualità del dato e certificazione: Aspetti legali
I dati sono oggi un elemento di riferimento imprescindibile e richiedono certificazione per garantirne affidabilità e valore economico.
Veronica Scotti – Avvocato e professore a contratto presso Politecnico di Milano, membro Commissione Metrologia Ordine degli Ingegneri Milano, esperta in metrologia legale e forense

17:10 – La metrologia nell’era dei Big Data e dell’IA: rischi e opportunità
L’intervento analizza i nuovi problemi che l’impiego di metodi e strumenti di misura che elaborano Big Data impiegando tecniche di IA pone alla caratterizzazione metrologica del risultato di misura e propone alcune idee per superarli..
Alessandro Ferrero – Professore ordinario di misure elettriche e elettroniche in quiescenza , ha insegnato Misure Elettriche e Digital Signal Processing al Politecnico di Milano per oltre 40 anni – Membro Commissione Metrologia Ordine degli Ingegneri Milano

17:25 – Conclusioni 
Finanziamenti per la formazione 
Elena Vicari –Emit Feltrinelli
Programmi di formazione metrologica
Fabrizio Venturini – direttore marketing Olivetti Italia; direttore generale Associazione Comufficio. Direttore Marketing  Cert Lab membro Commissione Metrologia Ordine degli Ingegneri Milano

17:45 aperitivo di networking

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